研磨過(guò)程：

1、先將需要加工的大理石平臺(tái)粗磨,粗磨是將大理石構(gòu)件的厚度和平度粗磨控制在標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)。

2、將粗磨后的大理石平臺(tái),進(jìn)行二次半細(xì)磨,半細(xì)磨可以去除比較深的劃痕讓大理石平臺(tái)達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)的平度。

3、細(xì)磨大理石平臺(tái)的板面,將半細(xì)磨的板面平度更進(jìn)一步的精度化達(dá)到有精度的基礎(chǔ)上。

4、將細(xì)磨帶有精度的大理石平臺(tái)進(jìn)行人工手工精磨,更細(xì)致的進(jìn)一步精研精度直接達(dá)到需求精度為止。

5、將精研細(xì)磨后達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)精度的大理石平臺(tái)進(jìn)行拋光,拋光后的大理石平臺(tái)表面光滑耐磨性高、平面粗糙度數(shù)值小,確保了精度穩(wěn)定。

注意事項(xiàng)：

研磨材料的選用一般選用剛玉、碳化硼、金剛石粉、氧化鉻、氧化鐵等。

三點(diǎn)法是通過(guò)實(shí)際被測(cè)大理石平臺(tái)表面上相距最遠(yuǎn)的三點(diǎn)所組成的平面作為評(píng)定基準(zhǔn)面，以平行于這個(gè)基準(zhǔn)面，并具有最小距離的兩包含平面間的距離作為平面度誤差值。

對(duì)角線檢測(cè)法是以通過(guò)實(shí)際被大理石平臺(tái)測(cè)表面上的一條對(duì)角線，并平行于另一條對(duì)角線所作的評(píng)定基準(zhǔn)面，以平行于這個(gè)基準(zhǔn)面且具有最小距離的兩包含平面間的距離作為平面度誤差值。

最小乘二檢測(cè)法是以實(shí)際被測(cè)大理石平臺(tái)表面的最小二乘平面作為評(píng)定基準(zhǔn)面，以平行于最小二乘平面，并具有最小距離的兩包含平面間的距離作為平面度誤差值。最小乘二平面是使實(shí)際被測(cè)表面上各點(diǎn)與該平面的距離的平方和為最小的平面。此方法計(jì)算較為復(fù)雜，一般需要計(jì)算機(jī)處理。